发布时间:2022-12-19作者来源:金航标浏览:3029
模块测试中还有一个重要的测试—时序测试。参考MSA的标准,基本的时序包括以下几个Ton/Toff,LOS_A ,LOS_D ,fault等。如下:
今天说一下LOS timing的测试。
LOS timing 是测量LOS跳变的时间,LOS_Assert Time是有光到无光时到LOS跳变为高的时间,LOS_Deassert Time为无光到有光的时候,LOS从高到低的跳变时间。测试架构如下。
注意事项:
1. LOS 分为AC LOS 和DC LOS ,测试AC LOS的时候光源需要加调制信号
2.测试需要考虑O/E convert 的转换时间,一般会比较快
3.光源可外接或者自环。
4.测试timing 的时候通常在灵敏度附近测试,但是也需要看饱和时候的值。很多TIA在饱和时候会有一个glitch的信号,会造成饱和时候的LOS timing超规格。可以利用主芯片的一些补偿功能或者其他的方式加以规避。
5.测试LOS timing超规格的时候要注意看LOS的外围是否有电容,AC LOS看LOS 外是否有电容,DC LOS的话需要看源信号RSSI的外围电路,如果滤波电容过大会影响LOS的 timing
6.LOS 通常是LA自带的功能,如果LA不能实现,但有的时候LA只能实现AC,无法实现DC,这样RSSI需要接入到MCU进行处理,最好通过比较器来实现,以保证LOS的时序
7.如果没有O/E convert,通常的做法就是通过Tx disable 来控制光源,测试Tx disable电平的转换到LOS的电平转换的时间,这个时间就是Ton/off+LOS on/off的时间,
8. OLT的LOS时序更为复杂,与Reset信号也相关,后续专门做解释。
下图为一个常规的LOS_on,LOS_off的测试图形,供参考。[敏感词]为光信号,青色为LOS信号
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